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Thin Solid Films

Thin Solid Films

固体薄膜

  • 4区 中科院分区
  • Q3 JCR分区
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期刊简介

《Thin Solid Films》是由Elsevier出版社于1967年创办的英文国际期刊（ISSN: 0040-6090，E-ISSN: 1879-2731），该期刊长期致力于材料科学：膜领域的创新研究，主要研究方向为工程技术-材料科学：膜。作为SCIE收录期刊（JCR分区 Q3，中科院 4区），本刊采用OA未开放获取模式（OA占比0.0194...%），以发表材料科学：膜领域等方向的原创性研究为核心（研究类文章占比100.00%%）。凭借严格的同行评审与高效编辑流程，期刊年载文量精选控制在347篇，确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of Science、Scopus等国际权威数据库，为学者提供推动材料科学领域高水平交流平台。

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投稿提示

Thin Solid Films审稿周期约为 约7.5个月 约15.1周。该刊近年未被列入国际预警名单，年发文量约347篇，录用竞争适中，主题需确保紧密契合材料科学前沿。投稿策略提示：避开学术会议旺季投稿以缩短周期，语言建议专业润色提升可读性。

  • 材料科学 大类学科
  • Multi-Language 出版语言
  • 否 是否预警
  • SCIE 期刊收录
  • 347 发文量

中科院分区

中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
否 否
材料科学
4区
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS 材料科学：膜 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学：综合 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理：凝聚态物理
4区 4区 4区 4区

中科院 SCI 期刊分区 2022年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
否 否
材料科学
3区
PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理：凝聚态物理 MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS 材料科学：膜 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学：综合 PHYSICS, APPLIED 物理：应用
3区 4区 4区 4区

JCR分区

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS SCIE Q3 17 / 23

28.3%
学科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 292 / 438

33.4%
学科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 114 / 179

36.6%
学科：PHYSICS, CONDENSED MATTER SCIE Q3 49 / 79

38.6%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS SCIE Q3 14 / 23

41.3%
学科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 283 / 438

35.5%
学科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 119 / 179

33.8%
学科：PHYSICS, CONDENSED MATTER SCIE Q3 49 / 79

38.61%

CiteScore

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
CiteScore：4 SJR：0.4 SNIP：0.628
学科类别 分区 排名 百分位
大类：Materials Science 小类：Metals and Alloys Q2 51 / 176

71%
大类：Materials Science 小类：Surfaces, Coatings and Films Q2 60 / 132

54%
大类：Materials Science 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 131 / 284

54%
大类：Materials Science 小类：Materials Chemistry Q2 148 / 317

53%
大类：Materials Science 小类：Surfaces and Interfaces Q2 28 / 57

51%

期刊发文

  • Highly individual single-walled carbon nanotubes synthesized by floating catalyst chemical vapor deposition for transparent conducting films

    Author: Ding, Yuanlong; Cao, Jun; Liao, Yongping; Ahmad, Saeed; Li, Hong; Lv, Lihua; Yan, Jun

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 764, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139635

  • Micro-/nano-crater in ultraviolet-pulsed-laser irradiated anti-reflective film

    Author: Jiang, Yong; Liao, Wei; Wang, Biyi; Jiang, Yilan; Zhang, Lijuan; Liu, Xinyi; Xu, Man; Liu, Hufeng; Zhang, Fawang

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 765, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139639

  • Effect of low-dimensional carbon composite on the thermoelectric properties of vacuum evaporated ZnO: Al films

    Author: Cui, Jinbin; Sun, Shang; Lan, Mingdi; Liu, Shiying; Piao, Yongjun; Li, Guojian; Wang, Qiang

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 766, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139641

  • Fabrication of chemisorbed film on ultrafine-grained steels for corrosion inhibition in saline solution

    Author: Wang, Panjun; Cai, Jiaxing; Cheng, Xuequn; Ma, Lingwei; Yang, Ying; Xia, Xiaojian; Li, Xiaogang

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 766, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139657

  • Calibration of polarization effects for the focusing lens pair in a micro-spot Mueller matrix ellipsometer

    Author: Liu, Jiamin; Jiang, Zhou; Zhang, Song; Huang, Tao; Jiang, Hao; Liu, Shiyuan

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 766, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139656

  • Thickness dependent optical properties of amorphous/polycrystalline Ga2O3 thin films grown by plasma-enhanced atomic layer deposition

    Author: Liu, Weiming; He, Junbo; Zhu, Xudan; Huang, Tiantian; Chen, Xin; Zheng, Yuxiang; Chen, Liangyao; Zhang, Rongjun

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 766, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139655

  • Structural origins of optical properties of nanosized indium particle films: An ellipsometric insight

    Author: Zhang, Hao-Tian; He, Rong; Peng, Lei; Yang, Yu-Ting; Sun, Xiao-Jie; Liu, Bao-Jian; Zhang, Yu -Shan; Zheng, Yu -Xiang; Zhang, Rong-Jun; Wang, Song-You; Li, Jing; Lee, Young-Pak; Chen, Liang-Yao

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 764, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139604

  • Strain engineering the electronic properties of the type-II CdO/MoS2 van der Waals heterostructure

    Author: Yan, Zheng-Hua; Zhang, Yan; Qiao, Hui; Duan, Li; Ni, Lei

    Journal: THIN SOLID FILMS. 2023; Vol. 764, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139626

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