Micron投稿须知_审稿周期

期刊简介

《Micron》是由Elsevier Ltd出版社于1993年创办的英文国际期刊（ISSN: 0968-4328，E-ISSN: 1878-4291），该期刊长期致力于显微镜技术领域的创新研究，主要研究方向为工程技术-显微镜技术。作为SCI、SCIE收录期刊（JCR分区 Q2，中科院 3区），本刊采用OA未开放获取模式（OA占比%），以发表显微镜技术领域等方向的原创性研究为核心（研究类文章占比97.62%%）。凭借严格的同行评审与高效编辑流程，期刊年载文量精选控制在126篇，确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of ScienceWeb of Science、Scopus等国际权威数据库，为学者提供推动工程技术领域高水平交流平台。

投稿咨询

投稿提示

Micron审稿周期约为约3.0个月。该刊近年未被列入国际预警名单，年发文量约126篇，录用竞争适中，主题需确保紧密契合工程技术前沿。投稿策略提示：避开学术会议旺季投稿以缩短周期，语言建议专业润色提升可读性。

工程技术 大类学科
English 出版语言
否是否预警
SCI、SCIE 期刊收录
126 发文量

中科院分区

《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）

Top期刊	综述期刊	大类学科	小类学科
否	否	工程技术 3区	MICROSCOPY 显微镜技术 3区

期刊分区表（2025年3月升级版）

Top期刊	综述期刊	大类学科	小类学科
否	否	工程技术 3区	MICROSCOPY 显微镜技术 3区

期刊分区表（2023年12月升级版）

Top期刊	综述期刊	大类学科	小类学科
否	否	工程技术 3区	MICROSCOPY 显微镜技术 3区

期刊分区表（2022年12月升级版）

Top期刊	综述期刊	大类学科	小类学科
否	否	工程技术 4区	MICROSCOPY 显微镜技术 3区

期刊分区表（2021年12月升级版）

Top期刊	综述期刊	大类学科	小类学科
否	否	工程技术 4区	MICROSCOPY 显微镜技术 3区

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q2	3 / 8	68.8
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	1 / 8	93.75

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	2 / 8	81.3
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	1 / 8	93.75

2023-2024年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	2 / 8	81.3
学科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	1 / 8	93.75

CiteScore（2026年6月最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 排名

CiteScore：4.5

SJR：0.563

SNIP：0.936

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Biochemistry, Genetics and Molecular Biology 小类：Structural Biology	Q3	27 / 51	48%
大类：Biochemistry, Genetics and Molecular Biology 小类：Cell Biology	Q3	195 / 289	32%

期刊发文

GCI: A generative CT interpolation model for rapid wood CT scannin
Author: Wang, Peiran; Shen, Hao; Xiong, Fuquan; Yu, Min; Liu, Shengquan

Journal: MICRON. 2026; Vol. 205, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104023
Experimentally-validated multi-slice simulation of electron diffraction pattern
Author: Xiao, Xinke; Ma, Tianle; Shao, Lingxuan; Liu, Jun; Shi, Qiwei; Cai, Canying; Roux, Stéphane

Journal: MICRON. 2026; Vol. 204, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104025
Monte Carlo simulation of secondary electron emission in TixNy based on first principle calculatio
Author: Yan, Runqi; Zhai, Yonggui; Wang, Hongguang; Li, Yongdong; Cao, Meng

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.103994
The morphology of male accessory glands in the Glenea cantor (Fabricius, 1787) (Coleoptera: Cerambycidae: Lamiinae
Author: Tan, Hui-Xin; Gao, Qiong-Hua; Tong, Xin

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.103999
Widening effect of SICM topography measurement based on electrolyte concentration gradient with dual-barrel pipett
Author: Wang, Zhiwu; Liao, Xiaobo; Zhuang, Jian; Qi, Qisong; Yuan, Yuan; Ning, Shaohui; Wang, Wenhao

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104004
Image drift compensation in scanning electron microscopy facilitated by an external scanning and imaging syste
Author: Liu, Ling'en; Zhang, Yixu; Wang, Ni; Tang, Liang; Yan, Chaoyang; Zhou, Jianli; Gao, Wenjie; Zhang, Yuefei; Lv, Junxia; Zhang, Ze

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103848
Adaptive AFM image reconstruction through frequency coefficient selection based on block compressed sensin
Author: Hu, Yifan; Li, Yingzi; Cheng, Peng; Lin, Rui; Qian, Jianqiang; Yuan, Quan; Chen, Yanan

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103849
Self-aligned protective shield for preparing beam-sensitive MEMS-based chip samples using focused ion bea
Author: Lu, Haozhe; Jin, Chuanhong

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103863

Micron

美光

期刊简介

投稿提示

中科院分区

JCR分区

CiteScore（2026年6月最新版）

期刊发文

相关期刊

怎样选择期刊

投稿相关问题

投稿后咨询