Journal Of Electronic Imaging

Journal Of Electronic Imaging

电子影像杂志

  • 4区 中科院分区
  • Q4 JCR分区

期刊简介

《Journal Of Electronic Imaging》是由SPIE出版社于1992年创办的英文国际期刊(ISSN: 1017-9909,E-ISSN: 1560-229X),该期刊长期致力于工程:电子与电气领域的创新研究,主要研究方向为工程技术-成像科学与照相技术。作为SCI、SCIE收录期刊(JCR分区 Q4,中科院 4区),本刊采用OA未开放获取模式(OA占比%),以发表工程:电子与电气领域等方向的原创性研究为核心(研究类文章占比99.69%%)。凭借严格的同行评审与高效编辑流程,期刊年载文量精选控制在324篇,确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of ScienceWeb of Science、Scopus等国际权威数据库,为学者提供推动计算机科学领域高水平交流平台。

投稿咨询

投稿提示

Journal Of Electronic Imaging审稿周期约为约4.0个月。该刊近年未被列入国际预警名单,年发文量约324篇,录用竞争适中,主题需确保紧密契合计算机科学前沿。投稿策略提示:避开学术会议旺季投稿以缩短周期,语言建议专业润色提升可读性。

  • 计算机科学 大类学科
  • English 出版语言
  • 是否预警
  • SCI、SCIE 期刊收录
  • 324 发文量

中科院分区

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 OPTICS 光学 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术
4区 4区 4区

期刊分区表(2025年3月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区

期刊分区表(2023年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区

期刊分区表(2022年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区

期刊分区表(2021年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 321 / 369

13.1

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 35 / 39

11.5

学科:OPTICS SCIE Q4 106 / 129

18.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 308 / 371

17.12

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 34 / 39

14.1

学科:OPTICS SCIE Q4 109 / 129

15.89

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 304 / 368

17.5

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 33 / 36

9.7

学科:OPTICS SCIE Q4 103 / 125

18

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 299 / 368

18.89

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 34 / 36

6.94

学科:OPTICS SCIE Q4 105 / 125

16.4

2023-2024年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75

CiteScore(2026年6月最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
CiteScore:2.4 SJR:0.249 SNIP:0.315
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 554 / 1030

46%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 615 / 1022

39%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 156 / 243

36%

期刊发文

  • From synthesis to segmentation: unsupervised liver tumor detection through synthetic tumor generatio

    Author: Zhu, Yuerong; Yang, Jianwei

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013016

  • PiSOD: a plug-and-play pseudosupervised framework for semantic-structural alignment in salient object detectio

    Author: Zhu, Xiaodong; Song, Mengke; Liu, Xinyu; Zhang, Guisheng; Yuan, Qianxi; Zhang, Yu

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013014

  • ATPP-KAN: robust black-box watermarking for Kolmogorov-Arnold Networks via alternating training and parameter perturbatio

    Author: Zhao, Yifei; Zhao, Gejian; Wu, Hanzhou

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013004

  • Cross-modal co-attention network for light field salient object detectio

    Author: Zhang, Yunzuo; Wang, Shuangshuang; Tu, Zhiwei; Yang, Yuehui

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013020

  • Deepfake detection method guided by dual-entropy uncertainty based on Gabor dual-domain features and channel-spatial correlation attentio

    Author: Zhang, Ruixing; Li, Bin; Xu, Degang

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013022

  • Multiperception enhanced network for efficient crowd countin

    Author: Zhang, Chen; Cheng, Jing-an; Zhang, Yan; Gao, Mingliang

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013002

  • Detecting object-level scene changes in images with feature alignmen

    Author: Xu, Zhi; Zeng, Xiaowei; Ma, Yuchang; Lai, Junjie; Zeng, Zhixin; Jiang, Yong

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013001

  • Efficient information utilization for fine-grained hashin

    Author: Wang, Hongsong; Lan, Zongjie; Su, Hai

    Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013006