Journal Of Microelectromechanical Systems

Journal Of Microelectromechanical Systems

微机电系统杂志

  • 3区 中科院分区
  • Q2 JCR分区

期刊简介

《Journal Of Microelectromechanical Systems》是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社于1992年创办的英文国际期刊(ISSN: 1057-7157,E-ISSN: 1941-0158),该期刊长期致力于工程:电子与电气领域的创新研究,主要研究方向为工程技术-工程:电子与电气。作为SCI、SCIE收录期刊(JCR分区 Q2,中科院 3区),本刊采用OA未开放获取模式(OA占比%),以发表工程:电子与电气领域等方向的原创性研究为核心(研究类文章占比100.00%%)。凭借严格的同行评审与高效编辑流程,期刊年载文量精选控制在104篇,确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of ScienceWeb of Science、Scopus等国际权威数据库,为学者提供推动工程技术领域高水平交流平台。

投稿咨询

投稿提示

Journal Of Microelectromechanical Systems审稿周期约为约3.0个月。该刊近年未被列入国际预警名单,年发文量约104篇,录用竞争适中,主题需确保紧密契合工程技术前沿。投稿策略提示:避开学术会议旺季投稿以缩短周期,语言建议专业润色提升可读性。

  • 工程技术 大类学科
  • English 出版语言
  • 是否预警
  • SCI、SCIE 期刊收录
  • 104 发文量

中科院分区

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用
3区 4区 3区 3区

期刊分区表(2025年3月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:应用
3区 3区 3区 3区

期刊分区表(2023年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技
3区 3区 3区 4区

期刊分区表(2022年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技
3区 3区 3区 4区

期刊分区表(2021年12月升级版)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
3区
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:应用
2区 3区 3区 3区

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 148 / 369

60

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 30 / 81

63.6

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 88 / 148

40.9

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 75 / 191

61

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 165 / 371

55.66

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 34 / 81

58.64

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q2 70 / 148

53.04

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 72 / 191

62.57

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 152 / 368

58.8

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 29 / 79

63.9

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 91 / 147

38.4

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 75 / 187

60.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 167 / 368

54.76

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 35 / 79

56.33

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q2 72 / 147

51.36

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 77 / 187

59.09

2023-2024年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 165 / 352

53.3

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 28 / 76

63.8

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 99 / 140

29.6

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 87 / 179

51.7

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 168 / 354

52.68

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 37 / 76

51.97

学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 73 / 140

48.21

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 83 / 179

53.91

CiteScore(2026年6月最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
CiteScore:6.3 SJR:0.724 SNIP:1.256
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Mechanical Engineering Q1 156 / 740

78%

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 245 / 1030

76%

期刊发文

  • MEMS Microheater With Fast Electrothermal Response for Self-Destructing Chip Application

    Author: He, Haoran; Ma, Wanli; Fan, Zhiqiang; Xu, Kai; Kang, Zhiqiang; Zhao, Wei; Zhang, Le; Qiao, Xiaojun; Geng, Wenping

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3674741

  • A Novel Comprehensive Parametric Macromodeling Method for MEMS Sensors Based on the Reduced-Order State-Space Models and Machine Learning Approache

    Author: Xu, Hao; Mo, Yun-Cong; Zhang, Hao-Dong; Wen, Jun-Jie; Zhou, Zai-Fa; Huang, Qing-An

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3677815

  • A Nano-g MEMS Accelerometer With Electrostatic Anti-Spring Based on SOI Technolog

    Author: Cao, Jianxia; Cao, Kangda; Zhou, Yang; Pei, Zhe; Ouyang, Hao; Zhao, Kunwei; Zhang, Shaolin; Yu, Kan; Wu, Wenjie; Liu, Huafeng; Liu, Jinquan

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3676738

  • Analysis of Brittle Fracture Characteristics Under Static/Dynamic Loads in Silicon-Based MEMS Cantilever

    Author: Yang, Mo; Cheng, Baolin; Nie, Weirong; Shi, Mingyuyi; Lei, Shenghong; Wang, He; Dai, Shijuan; Cao, Yun

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3679568

  • A Novel Optimization and Yield Analysis Method for MEMS Devices Combining Bi-Fidelity Deep Neural Network and Active Subspac

    Author: Zhao, Lin-Feng; Liu, Gong-Zeng; Mo, Yun-Cong; Wang, He; Huang, Qing-An; Zhou, Zai-Fa

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3667598

  • Low-Loss and Ultra-Wideband SAW Filters Using LiNbO3/Si Structur

    Author: Xu, Qiufeng; Shen, Junyao; Xie, Shouren; Shen, Quhuan; Pan, Feng

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3669513

  • A Lithium Niobate Piezoelectric Micromachined Ultrasonic Transducer Operating in Thickness-Field-Excitation ModeWith Enhanced Acoustic Emissio

    Author: Liu, Zhiquan; Le, Xianhao; Wang, Xiongfeng; Jiang, Yang; Wan, Qing; Xu, Wei; Mao, Junfa; Liao, Wugang; Gao, Feng

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3668053

  • Two-Dimensional Modeling for Parametric Optimization and Crosstalk Analysis of Dual-Axis Micro Thermal Convective Tilt Sensor

    Author: Luo, Huahuang; Peng, Tingfeng; Lu, Zihan; Xu, Hongxin; Wang, Yuan; Kraft, Michael; Wang, Chen; Ke, Qingqing

    Journal: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS. 2026; Vol. , Issue , pp. -. DOI: 10.1109/JMEMS.2026.3672086