Ieee Design & Test

期刊简介

《Ieee Design & Test》是由IEEE Computer Society出版社于2013年创办的英文国际期刊（ISSN: 2168-2356，E-ISSN: 2168-2364），该期刊长期致力于计算机：硬件领域的创新研究，主要研究方向为COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC。作为SCI、SCIE收录期刊（JCR分区 Q3，中科院 4区），本刊采用OA未开放获取模式（OA占比0%），以发表计算机：硬件领域等方向的原创性研究为核心（研究类文章占比100.00%%）。凭借严格的同行评审与高效编辑流程，期刊年载文量精选控制在38篇，确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of ScienceWeb of Science、Scopus等国际权威数据库，为学者提供推动计算机科学领域高水平交流平台。