International Journal Of Rf Technologies-research And Applications

International Journal Of Rf Technologies-research And Applications

国际射频技术研究与应用杂志

  • 4区 中科院分区
  • Q4 JCR分区

期刊简介

《International Journal Of Rf Technologies-research And Applications》是由SAGE Publications (formerly IOS Press)出版社创办的英文国际期刊(ISSN: 1754-5730,E-ISSN: 1754-5749),该期刊长期致力于计算机:信息系统领域的创新研究,主要研究方向为COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS。作为SCIE收录期刊(JCR分区 Q4,中科院 4区),本刊采用OA未开放获取模式(OA占比0%),以发表计算机:信息系统领域等方向的原创性研究为核心(研究类文章占比87.50%%)。凭借严格的同行评审与高效编辑流程,期刊年载文量精选控制在8篇,确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of Science、Scopus等国际权威数据库,为学者提供推动计算机科学领域高水平交流平台。

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投稿提示

International Journal Of Rf Technologies-research And Applications该刊近年未被列入国际预警名单,年发文量约8篇,录用竞争适中,主题需确保紧密契合计算机科学前沿。投稿策略提示:避开学术会议旺季投稿以缩短周期,语言建议专业润色提升可读性。

  • 计算机科学 大类学科
  • English 出版语言
  • 是否预警
  • SCIE 期刊收录
  • 8 发文量

中科院分区

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学
4区
COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统
4区

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q4 206 / 266

22.7

学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q4 214 / 266

19.74

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q4 240 / 258

7.2

学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q4 237 / 258

8.33

2023-2024年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q3 168 / 249

32.7

学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS ESCI Q4 246 / 251

2.19

CiteScore(2026年6月最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
CiteScore:2.3 SJR:0.299 SNIP:0.499
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Industrial and Manufacturing Engineering Q3 227 / 425

46%

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 562 / 1030

45%

大类:Engineering 小类:Management of Technology and Innovation Q3 196 / 317

38%

大类:Engineering 小类:Management Information Systems Q3 95 / 143

33%

期刊发文

  • Applying RFID and NLP for efficient warehouse pickin

    Author: Xu, Man; Wang, Yunze; Xing, Dan

    Journal: INTERNATIONAL JOURNAL OF RF TECHNOLOGIES-RESEARCH AND APPLICATIONS. 2025; Vol. 15, Issue 1, pp. 49-64. DOI: 10.3233/RFT-230055

  • Exploring transformer fault detection using RFID technolog

    Author: Li, Xiaomeng

    Journal: INTERNATIONAL JOURNAL OF RF TECHNOLOGIES-RESEARCH AND APPLICATIONS. 2025; Vol. 15, Issue 1, pp. 65-82. DOI: 10.3233/RFT-230056