期刊简介
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社于2001年创办的英文国际期刊（ISSN: 1530-4388，E-ISSN: 1558-2574），该期刊长期致力于工程：电子与电气领域的创新研究，主要研究方向为工程技术-工程：电子与电气。作为SCIE收录期刊（JCR分区 Q2，中科院 3区），本刊采用OA未开放获取模式（OA占比0%），以发表工程：电子与电气领域等方向的原创性研究为核心（研究类文章占比97.22%%）。凭借严格的同行评审与高效编辑流程，期刊年载文量精选控制在72篇，确保学术质量与前沿性。成果覆盖Web of Science、Scopus等国际权威数据库，为学者提供推动工程技术领域高水平交流平台。
投稿咨询投稿提示
Ieee Transactions On Device And Materials Reliability审稿周期约为 较慢,6-12周 。该刊近年未被列入国际预警名单，年发文量约72篇，录用竞争适中，主题需确保紧密契合工程技术前沿。投稿策略提示：避开学术会议旺季投稿以缩短周期，语言建议专业润色提升可读性。
- 工程技术 大类学科
- English 出版语言
- 否 是否预警
- SCIE 期刊收录
- 72 发文量
