Microelectronics Reliability

Microelectronics Reliability

微电子可靠性

  • 4区 中科院分区
  • Q3 JCR分区

期刊评价

  • 影响因子1.6
  • 研究类文章占比98.39%
  • H-index80
  • Gold OA文章占比14.36%
  • 期刊收录SCIE
  • 是否预警
  • 年发文量310
  • 是否OA未开放

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